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集成电路知识产权司法鉴定——之商业秘密
引用本文:范兵.集成电路知识产权司法鉴定——之商业秘密[J].中国集成电路,2010,19(3):90-92.
作者姓名:范兵
作者单位:工业和信息化部软件与集成电路促进中心知识产权司法鉴定所,北京,100038
摘    要:本文所讨论的范围主要集中在与集成电路芯片技术相关的案件,这些与芯片技术相关的案件中涉及最多的是专利和商业秘密的问题。本文将对集成电路领域有关商业秘密类型案件的司法鉴定问题进行介绍和探讨。

关 键 词:司法鉴定  集成电路  知识产权  商业秘密

Judicial Forensic Evaluation and Integrated Circuits Intellectual Property Protection——Trade Secrets
Fan Bing.Judicial Forensic Evaluation and Integrated Circuits Intellectual Property Protection——Trade Secrets[J].China Integrated Circuit,2010,19(3):90-92.
Authors:Fan Bing
Institution:CSIP Intellectual Property Expertise Center of Judicature;Beijing 100038;China
Abstract:The major areas discussed in this article focused on the integrated circuit technology-related eases~ Two major issues are patent rights and trade secret involved in these cases. This article will introduce and discuss the method of judicial forensic in integrated circuit technology-related trade secret cases .
Keywords:Judicial Forensic  integrated circuit  intellectual property  Trade Secret  
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