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| X射线荧光光谱—互标法测定Ba—Ti—Sr—Y—Si—Mn体系中各成分含量 | |
| 引用本文： | 孟胤宗,缪一飞.X射线荧光光谱—互标法测定Ba—Ti—Sr—Y—Si—Mn体系中各成分含量[J].光谱实验室,1991,8(6):12-15. |
| 作者姓名： | 孟胤宗 缪一飞 |
| 作者单位： | [1]机械电子工业部光学材料产品质量监督检测中心，成都市610051 [2]机械电子工业部光学材料产品质量监督检测中心， |
| 摘 要： | 本文用X射线荧光光谱－互标法对Ba-Ti-Sr-Y-Si-Mn体系中各成份含量进行了测定，证明了互标法是一种精度高、准确度好地分析方法。 |
| 关 键 词： | Ba－Ti－Sr－Y－Si－Mn体系 互标法 测定 X射线荧光光谱 精密度 准确度 |
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