光致诱蚀无显影气相光刻(DFVP)作用机理及其应用 |
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引用本文: | 王培清,卢建平.光致诱蚀无显影气相光刻(DFVP)作用机理及其应用[J].半导体技术,1995(2):13-15. |
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作者姓名: | 王培清 卢建平 |
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作者单位: | 清华大学 |
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摘 要: | 大功率半导体器件是机电一体化不可缺少的基础元件,光致诱蚀无显影气相DFVP光刻具有分辨高、钍孔密度低、光刻流程短、设备简单、经济上节约等优点。因此将DFVP运用于晶闸管器件的生产具有重要的意义。研究的技术关键是要解决厚SiO2层的刻蚀、刻蚀的曝光量及速度问题。本课题对DFVP机理作了进一步研究,从而研究了两种新的光致诱蚀剂;已大大缩短曝光时间(约1分钟),并能刻蚀含杂质镓且厚达1.4μm的SiO2
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关 键 词: | 光致诱蚀 无显影 气相光刻 二氧化硅层 |
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