|
|||||
|
|
The photoelectric yield technique for the characterization of the semiconductor heterostructures |
|
| Authors: | F Evangelisti L Di Gaspare |
| Institution: | 1. Unità INFM and Dipartimento di Fisica “E. Amaldi”, Università di Roma III v., Vasca Navale 84, 00146, Roma, Italy |
| Abstract: | |
| Keywords: | |
| 本文献已被 SpringerLink 等数据库收录！ | |