基于光纤的量子椭圆偏振光测量装置 |
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引用本文: | 邹雪峰,李凤娇,崔亮,李小英.基于光纤的量子椭圆偏振光测量装置[J].量子光学学报,2019(1). |
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作者姓名: | 邹雪峰 李凤娇 崔亮 李小英 |
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作者单位: | 天津大学精密仪器与光电子工程学院光电信息技术教育部重点实验室 |
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摘 要: | 利用基于光纤的便携式偏振纠缠光子对源作为检测光源,搭建了使用单模光纤进行耦合的量子椭圆偏振光测量装置。实验测量了氧化层厚度为100nm的氧化膜硅片样品,通过将偏振纠缠光子对中的一路经由氧化膜硅片样品进行反射,然后借助双光子符合计数方法测量反射后的量子态,得到了样品的椭圆偏振参数。当入射到样品上的光子波长为1 558.17nm,入射角为30°时,通过三次实验所得的椭圆偏振参数(ψ,Δ)的平均值分别为40.23°和173.10°,标准差分别为0.046°和0.403°,测量结果的相对标准偏差小于1%,同时该结果与仿真模拟值相符。
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