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模拟电路结构化可测性设计研究综述
引用本文:
赵振峰,戴昌培.模拟电路结构化可测性设计研究综述[J].电子测试,1995,9(2):8-13.
作者姓名:
赵振峰
戴昌培
作者单位:
北京自动测试研究所,北京自动测试研究所
摘 要:
本文说明模拟电路结构化可测性设计(DFT)的原则,同时介绍了两个可测性设计结构。这些原则和结构可以作为数模混合测试总线标准IEEE P1149.4的基础。
关 键 词:
模拟电路
结构化
可测性设计
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