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基于多层膜偏振元件的同步辐射光束线偏振特性测量研究
引用本文:孙立娟,崔明启,朱杰,赵屹东,郑雷,马陈燕,陈凯,赵佳,周克瑾,王占山,王洪昌. 基于多层膜偏振元件的同步辐射光束线偏振特性测量研究[J]. 中国物理 C, 2007, 31(4): 400-404
作者姓名:孙立娟  崔明启  朱杰  赵屹东  郑雷  马陈燕  陈凯  赵佳  周克瑾  王占山  王洪昌
作者单位:中国科学院高能物理研究所,中国科学院高能物理研究所,中国科学院高能物理研究所,中国科学院高能物理研究所,中国科学院高能物理研究所,中国科学院高能物理研究所,中国科学院高能物理研究所,中国科学院高能物理研究所,中国科学院高能物理研究所,同济大学,同济大学 北京 100049,北京 100049,北京 100049,北京 100049,北京 100049,北京 100049,北京 100049,北京 100049,北京 100049,上海 200092,上海 200092
摘    要:利用自行研制的同步辐射软X射线多层膜综合偏振测量装置, 对北京同步辐射装置(BSRF)的3W1B软X射线光束线的偏振特性进行了系统的研究. 给出了多层膜偏振元件起偏前后的测量结果, 测量能量为206eV时, 经反射镜、光栅等光束线光学元件后输出的线偏振度(起偏前)为0.585, 经多层膜偏振元件起偏后输出光的线偏振度达到0.995.

关 键 词:同步辐射  软X射线  偏振装置  多层膜偏振元件  偏振特性测量
收稿时间:2006-08-02
修稿时间:2006-08-02

Polarization Characteristic Measurements of the Synchrotron Radiation Beamline Based on Multilayer
SUN Li-Juan,CUI Ming-Qi,ZHU Jie,ZHAO Yi-Dong,ZHENG Lei,MA Chen-Yan,CHEN Kai,ZHAO Jia,ZHOU Ke-Jin,WANG Zhan-Shan,WANG Hong-Chang. Polarization Characteristic Measurements of the Synchrotron Radiation Beamline Based on Multilayer[J]. High Energy Physics and Nuclear Physics, 2007, 31(4): 400-404
Authors:SUN Li-Juan  CUI Ming-Qi  ZHU Jie  ZHAO Yi-Dong  ZHENG Lei  MA Chen-Yan  CHEN Kai  ZHAO Jia  ZHOU Ke-Jin  WANG Zhan-Shan  WANG Hong-Chang
Affiliation:1Institute of High Energy Physics, Chinese Academy of Sciences, Beijing 100049, China; 2 Tongji University, Shanghai 200092, China
Abstract:Using the home-made synchrotron radiation soft X-ray polarimeter based on multilayer elements, the polarization characteristics of the Beamline 3W1B have been measured at Beijing Synchrotron Radiation Facility (BSRF). This paper compares the measuring results of using polarizer with the results without the polarizer at 206eV. The degree of linear polarization without the polarizer is 0.585. However, the degree of linear polarization is up to 0.995 when the beam is polarized by multilayer optical elements.
Keywords:synchrotron radiation   soft X-ray   polarimeter   multilayer polarized element   measurement of polarization characteristic
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