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| 薄膜生长荧光显微图像实时采集与分析系统 | |
| 引用本文： | 鄢志丹,立东,胡春光,胡小唐,Peter Zeppenfeld.薄膜生长荧光显微图像实时采集与分析系统[J].光学学报,2012,32(9):931002-322. |
| 作者姓名： | 鄢志丹 立东 胡春光 胡小唐 Peter Zeppenfeld |
| 作者单位： | 鄢志丹:中国石油大学（华东）信息与控制工程学院, 山东 青岛 266580林茨大学实验物理研究所原子与表面科学系, 奥地利 林茨 A-4040 立东:林茨大学实验物理研究所原子与表面科学系, 奥地利 林茨 A-4040 胡春光:天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室, 天津 300072 胡小唐:天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室, 天津 300072 Peter Zeppenfeld:林茨大学实验物理研究所原子与表面科学系, 奥地利 林茨 A-4040 |
| 基金项目： | 国家自然科学基金青年基金(11104354)、中国奥地利国际合作项目(WTZ-VII.VB.18,2008DFA71610)、青岛市科技发展计划项目(12-1-4-7-(5)-jch)和天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室开放课题资助课题。 |
| 摘 要： | 设计了一套具有一定实用意义和科学价值的薄膜生长荧光显微图像实时采集与分析系统,可以实现透明衬底上有机荧光分子薄膜生长的实时原位监测。进一步阐明了系统的硬件构筑思路和软件设计架构,并依据薄膜的形貌特征,给出8个主要生长信息参数及其求取算法,并利用自行搭建的实验系统,针对联六苯(p-6P)分子在云母衬底上的纳米纤维生长过程,得出了其准一维的线性生长规律。该系统作为重要的薄膜生长成像监测技术,有望在薄膜与衬底表面相互作用和衬底微区结构特性研究等方面起到积极的作用。 |
| 关 键 词： | 薄膜 荧光显微术 成像系统 图像处理 薄膜生长参量 |
| 收稿时间： | 2012/3/12 |
Real-Time Fluorescence Microscopic Image Acquisition and Analysis System for Thin-Film Growth Investigation |
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| Institution: | Yan Zhidan 1,2 Sun Lidong 2 Hu Chunguang 3 Hu Xiaotang 3 Peter Zeppenfeld 2 1 College of Information and Control Engineering,China University of Petroleum(East China),Qingdao,Shandong 266580,China 2 Institute für Experimentalphysik,Johannes Kepler Universitt Linz,Linz,A-4040,Austria 3 State Key Laboratory of Precision Measuring Technology and Instruments,Tianjin University,Tianjin300072,China |
| Abstract: | A real-time imaging acquisition and analysis system is designed to investigate thin film growth on transparent substrates using fluorescence microscopy. And eight growth parameters are proposed based on film growth morphological feature. Besides, using home-made experimental system, we analyze the p-6P nanofiber growth on the mica substrate dynamically, revealing the quasi-one-dimensional growth mode of the para-sexipheny (p-6P) molecules on the mica substrate. As an important imaging technique for monitoring thin film growth, the system is expected to play an active role in understanding micro-structural properties of thin film and the interactions between film and substrate. |
| Keywords: | thim films fluorescence microscopy imaging systems image processing thin-film growth parameters |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |