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| 利用计数装置来记录迈克尔孙干涉仪干涉条纹的变化数 | |
| 引用本文： | 杨蓉,朱桂荣.利用计数装置来记录迈克尔孙干涉仪干涉条纹的变化数[J].物理实验,1996,16(1):43-43. |
| 作者姓名： | 杨蓉 朱桂荣 |
| 作者单位： | 苏州大学物理系 |
| 摘 要： | 利用计数装置来记录迈克尔孙干涉仪干涉条纹的变化数杨蓉，朱桂荣，屠传士（苏州大学物理系２１５００６）精密测量长度常用的方法是将待测长度和激光波长作比较，通过干涉条纹计数求待测长度．利用迈克尔孙干涉仪得到干涉图，用感光元件把光学信号变成电信号并与其他电子... |
| 关 键 词： | 干涉仪 干涉条纹 长度测量 计数器 |
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