首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     检索      

某内场测试设备电压补偿方法及分析
引用本文:高岚.某内场测试设备电压补偿方法及分析[J].电光与控制,2010,17(5).
作者姓名:高岚
作者单位:中国空空导弹研究院,河南,洛阳,471009
摘    要:某内场测试设备用于发射装置的内场测试,在测试过程中部分信号需要进行加载测试,这样会产生较大电流,进而造成电缆上的电压损耗,这一问题直接影响了这些信号测试的准确性,为了提高测试设备的测试精度,必须对损耗的电压进行补偿。提出了一种基于调整电源输出电压,进而保证发射装置供电需求的方法来实现电压补偿,给出了具体的实验方法、实验步骤和正常测试以及拉偏测试条件下的实验数据,并对实验结果进行分析讨论,同时指出该方法的不足之处以及解决措施。目前,该方法已经成功地在某内场测试设备中得到应用,有效地提高了设备的测试精度,并且在正常测试和拉偏实验中得到了很好地验证。

关 键 词:机载导弹发射装置  内场测试设备  电压补偿

A Voltage Compensation Method for Depot Test Equipment
GAO Lan.A Voltage Compensation Method for Depot Test Equipment[J].Electronics Optics & Control,2010,17(5).
Authors:GAO Lan
Abstract:
Keywords:
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号