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电子束显示器件可靠性
引用本文:
吴福源.电子束显示器件可靠性[J].电子器件,1982(Z1).
作者姓名:
吴福源
摘 要:
随着电子技术的不断发展和应用,高可靠,长寿命研究工作将是一个十分重要的课题,国外早已成为一门专门学科。它利用概率统计和故障物理的研究,促进了器件质量的不断提高,加快了新材料和新工艺的应用。在我国电子工业中,高可靠,长寿命研究工作早在60年代已经开始,并成立了专门的可靠性研究机构,取得了很大成绩。
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