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基于C8051F060和AD9834的频率响应测试仪设计
引用本文:张家田,杨忠华,严正国.基于C8051F060和AD9834的频率响应测试仪设计[J].电子元器件应用,2010,12(10):12-14.
作者姓名:张家田  杨忠华  严正国
作者单位:西安石油大学光电油气测井与检测教育部重点实验室,陕西西安710065
基金项目:陕西省科技厅自然科学基金(2007D01)
摘    要:为了测试电路系统的频率响应特性,通常需要在电路系统输入端加上不同频率的激励,然后再测量电路的输出以得到频率响应函数。文中介绍了由单片机和DDS构成的频率响应测试仪设计方法,同时给出了单片机中的软件处理流程。试验结果表明,本测试仪测量精度高,操作方便。

关 键 词:AD9834频率响应  测试仪  单片机  C8051F060
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