|
|||||
|
|
| X-射线荧光光谱法快速测定半钢发热剂中Si,P,S | |
| 作者单位： | ;1.昆明钢铁集团责任有限公司质量计量检测中心 |
| 摘 要： | 目前,国内没有关于半钢发热剂的国家标准检测方法,只能根据组分范围分别检测各个组分,不仅耗时而且使用的大量化学试剂对环境造成污染。故研究了X-射线荧光光谱法快速测定半钢发热剂中Si,P,S的方法。采用粉末压片制样,研究其制样条件,包括磨样时间、压样时间和压力对测定结果的影响。采用其它方法定值提供的检测样品,作为X-射线荧光光谱法内控标准样品,采用经验系数法进行基体校正,通过解谱拟合建立校准曲线,校准曲线建立后仪器建立漂移校正程序。实验结果精密度好,各元素的相对标准偏差在0.15%1.3%。准确度满足生产需求,实验方法可用于快速检测半钢发热剂化学组分。 |
| 关 键 词： | X-射线荧光光谱法 快速测定 半钢发热剂 方法研究 |
Determination of Si,P and S in Semi-steel Heating Agents by X-ray Fluorescence Spectrometry |
|
| Abstract: | |
| Keywords: | |