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| 电子能谱研究Pb_(0.8)Sn_(0.2)Te表面状态 | |
| 作者单位： | 上海市测试技术研究所 (罗兴华)，中国科学院上海技术物理研究所 (袁诗鑫)，中国科学院上海技术物理研究所(贡树行) |
| 摘 要： | 用AES和XPS测量不同腐蚀剂对Pb_(0.8)Sn_(0.2)Te表面组份和价态的影响。除测量AES的组份深度分布外,还逐层测量了XPS的变化。本文提出一种简单的谱峰分离计算方法,可作出不同价态Te的深度分布图。 |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |
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