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树脂型光刻胶薄膜中Eu~(3+)的辐射跃迁特性
引用本文:李晓娟,TSANG Kwok Chu,林海.树脂型光刻胶薄膜中Eu~(3+)的辐射跃迁特性[J].光谱学与光谱分析,2009,29(3).
作者姓名:李晓娟  TSANG Kwok Chu  林海
作者单位:1. 大连工业大学化工与材料学院,辽宁,大连,116034
2. 香港城市大学电子工程系,香港,九龙
3. 大连工业大学化工与材料学院,辽宁,大连,116034;香港城市大学电子工程系,香港,九龙
基金项目:教育部留学回国人员科研启动基金,大连工业大学硕士研究生科技创新基金,大连市科技基金 
摘    要:合成了稀土配合物Eu(TTFA)3(TTFA,2-thenoyltfifluoroacetone)掺杂的树脂型光刻胶薄膜,测定了薄膜的激发光谱和发射光谱.根据Judd-Ofelt理论,由发射光谱获得了Eu3+在光刻胶薄膜中的J-O参数Ω2=24.4×10-20cm2,Ω4=2.8×10-20cm2.利用得到的J-O参数计算了光刻胶薄膜中5D0激发态的辐射跃迁概率(977 s-1)和辐射寿命(1.02 ms),同时导出了光刻胶薄膜中Eu3+的5D0→FJ(J=1,2,4)跃迁的受激发射截面σ和荧光分支比β.分析表明,Eu3+掺杂的光刻胶薄膜具有较长的亚稳态寿命以及较大的受激发射截面,是一种主动放大的光波导薄膜.其发射波长与光刻胶的低吸收损耗区很好地匹配,可用于研发聚合物光波导放大器和激光器.

关 键 词:稀土配合物  光刻胶薄膜  Judd-Ofelt参数  辐射跃迁概率

Optical Radiative Transition Characteristics of Eu(TTFA)_3-Doped Resin Photoresist Polymer Film
LI Xiao-juan,TSANG Kwok Chu,PUN Edwin Yue-Bun,LIN Hai.Optical Radiative Transition Characteristics of Eu(TTFA)_3-Doped Resin Photoresist Polymer Film[J].Spectroscopy and Spectral Analysis,2009,29(3).
Authors:LI Xiao-juan  TSANG Kwok Chu  PUN Edwin Yue-Bun  LIN Hai
Institution:LI Xiao-juan1,TSANG Kwok Chu2,PUN Edwin Yue-Bun2,LIN Hai1,2 1.Faculty of Chemical Engineering , Materials,Dalian Polytechnic University,Dalian 116034,China 2.Department of Electronic Engineering,City University of Hong Kong,Kowloon,Hong Kong,China
Abstract:
Keywords:Rare-earth complex  Photoresist film  Judd-Ofelt parameters  Radiative transition rates  
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
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