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一种基于散射参数级联的微波自动测试系统校准方法
摘 要:
<正>公布号:CN104849687A;公布日:2015.08.19申请人:中国电子科技集团公司第四十一研究所摘要:本发明提出了一种基于散射参数级联的微波自动测试系统校准方法,包括以下步骤:根据具体测试应用状态,确定校准和测试所包含的全部测试通道及其各基本组成单元,并
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