| 基于图像处理的石英晶片定位技术研究 |
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| 引用本文： | 安宝健,王艳林,李东.基于图像处理的石英晶片定位技术研究[J].现代电子技术,2015(1):109-111,114. |
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| 作者姓名： | 安宝健 王艳林 李东 |
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| 作者单位： | 北京信息科技大学 仪器科学与光电工程学院,北京,100192 |
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| 基金项目： | 机电系统测控北京市重点实验室开放项目石英晶片外观缺陷检测技术研究 |
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| 摘 要： | 为了实现自动测量石英晶片的频率等相关参数并进行分档,研究了石英晶片的图像定位技术,主要利用图像处理技术对采集的图像进行图像二值化、边缘检测、轮廓提取等处理,完成对石英晶片中心的定位。经验证,该石英晶片定位技术能够在保证系统要求的石英晶片分选速度的前提下实现石英晶片的准确定位。
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| 关 键 词： | 石英晶片 定位技术 图像处理 自动分选 |
Research of quartz wafer positioning technology based on image processing |
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| AN Bao-jian,WANG Yan-lin,LI Dong.Research of quartz wafer positioning technology based on image processing[J].Modern Electronic Technique,2015(1):109-111,114. |
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| Authors: | AN Bao-jian WANG Yan-lin LI Dong |
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| Institution: | AN Bao-jian;WANG Yan-lin;LI Dong;Institute of Instrument Science and Optoelectronics Engineering,Beijing Information Science & Technology University; |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | quartz wafer positioning technology image processing automatic sorting |
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