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光纤的大长度轴向侧面抛磨实验及理论分析
引用本文:魏环,裴丽,赵瑞峰,姜彬.光纤的大长度轴向侧面抛磨实验及理论分析[J].光电技术应用,2008,23(4).
作者姓名:魏环  裴丽  赵瑞峰  姜彬
作者单位:北京交通大学全光网与现代通信网教育部重点实验室,光波技术研究所,北京,100044
基金项目:国家高技术研究发展计划(863计划),北京市自然科学基金,北京交通大学校科研和教改项目,教育部跨世纪优秀人才培养计划
摘    要:在光器件的制作中,应用接近纤芯内部或附近传播的光场,常以光纤的轴向侧面抛磨为实现方法.目前小长度的光纤研磨技术已趋于成熟,但大长度的研磨仍为一技术难点.理论分析了光纤研磨的特性;实现了光纤的大长度研磨实验,并比较了实验结果与理论结果:二者变化规律基本相同;研磨精度可控,长度可选,最长可达十几厘米;在给定光纤参数下,得出光纤研磨的适宜深度范围为51.42~57.8 μm.

关 键 词:轴向侧面抛磨  标量分析法  LΡ01模的传输常数  功率限制因子

Experiment and Theoretical Analysis of Long Fiber's Axial-Side Rubbing
WEI Huan,PEI Li,ZHAO Rui-feng,JIANG Bin.Experiment and Theoretical Analysis of Long Fiber's Axial-Side Rubbing[J].Electro-Optic Technology Application,2008,23(4).
Authors:WEI Huan  PEI Li  ZHAO Rui-feng  JIANG Bin
Abstract:
Keywords:
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