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等离子发射光谱法测定精铟中的痕量杂质元素
引用本文:解原.等离子发射光谱法测定精铟中的痕量杂质元素[J].化学分析计量,2007,16(3):28-30.
作者姓名:解原
作者单位:广东省矿产应用研究所,韶关,512026
摘    要:研究了等离子发射光谱法对精铟中9种杂质元素的连续测定。以HCl-HNO3溶解样品,讨论了分析谱线及溶液酸度的选择,并用等效浓度差减法消除了基体的影响。对仪器的功率和工作气体流量等分析条件进行了优化。结果表明,杂质元素的检出限为0.0005~0.0107mg/L,相关系数r≥0.9994,回收率为96.45%~103.13%,相对标准偏差不大于2.05%。

关 键 词:电感耦合等离子发射光谱  精铟  痕量杂质元素
修稿时间:2007年3月2日

DETERMINATION OF TRACE IMPURITY ELEMENTS IN PURE INDIUM BY ICP- AES
Xie Yuan.DETERMINATION OF TRACE IMPURITY ELEMENTS IN PURE INDIUM BY ICP- AES[J].Chemical Analysis And Meterage,2007,16(3):28-30.
Authors:Xie Yuan
Abstract:
Keywords:ICP-AES  pure indium  trace impurity element
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