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| 分析型反射电子显微镜和表面科学：实验技术和发展 | |
| 作者姓名： | 王中林 |
| 作者单位： | Microstructural Physics |
| 摘 要： | 本文综述了反射电子显微术(REM)和反射电子能量损失谱(REELS)在表面科学中的应用。较详细地给出了用这些方法研究表面原子结构、化学成份和电子态的基本实验和理论,指出了发展这一学科对表面研究的重要性。 |
| 关 键 词： | 反射 电子显微镜 表面科学 |
| 本文献已被 CNKI 维普 等数据库收录！ | |
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