| 外延生长的Gd掺杂CeO2薄膜内位错的透射电子显微学表征 |
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| 引用本文： | 宋克鹏,杜奎,叶恒强.外延生长的Gd掺杂CeO2薄膜内位错的透射电子显微学表征[J].电子显微学报,2015(1). |
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| 作者姓名： | 宋克鹏 杜奎 叶恒强 |
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| 作者单位： | 中国科学院金属研究所 沈阳材料科学国家 联合 实验室,辽宁 沈阳,110016 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金项目资助项目(Nos．51371177，51221264)． |
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| 摘 要： | 利用脉冲激光沉积（ pulsed laser depositon， PLD）方法在YSZ（ Y2 O3 stabilised zirconia）单晶衬底上外延生长了Gd掺杂的CeO2薄膜（gadolinium doped CeO2，GDC）。利用透射电子显微镜（TEM）对GDC／YSZ界面以及GDC薄膜内部的位错结构进行了表征。实验发现，界面处存在周期性分布的失配位错，界面失配主要通过失配位错释放。 GDC薄膜内部存在两种不同的位错，其中一种为纯刃型位错，另外一种为混合型位错。
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| 关 键 词： | 固体氧化物燃料电池 外延生长 GDC 位错 高分辨透射电子显微像 |
Transmission electron microscopy characterization of dislocations in epitaxial gadolinia-doped ceria films |
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| SONG Kepeng,DU Kui,YE Hengqiang.Transmission electron microscopy characterization of dislocations in epitaxial gadolinia-doped ceria films[J].Journal of Chinese Electron Microscopy Society,2015(1). |
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| Authors: | SONG Kepeng DU Kui YE Hengqiang |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | solid oxide fuel cells epitaxial GDC dislocations HRTEMs |
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