半导体参数自动测量和提取中GPIB与IBMPC接口技术

本文介绍的ＨＰ测试仪与ＩＢＭ ＰＣ微机构成的系统集测量与数据处理于一体，成功地实现了半导体参数的快速测量和提取，为集成电路和设计和开发提供了有效的手段，着重介绍ＧＰＩＢ测控总线与ＩＢＭＰＣ系统总线的接口原理及软／硬件实现方法。