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| 近阈值下He原子的双电子电离实验中出射电子研究 | |
| 引用本文： | 曹士娉,马新文,A. Dorn,M. Dürr,J. Ullrich. 近阈值下He原子的双电子电离实验中出射电子研究[J]. 物理学报, 2007, 56(11): 6386-6392 |
| 作者姓名： | 曹士娉 马新文 A. Dorn M. Dürr J. Ullrich |
| 作者单位： | 1. 中国科学院近代物理研究所,兰州,730000;中国科学院研究生院,北京,100049 2. 中国科学院近代物理研究所,兰州,730000 3. Max-Planck-Institute for Nuclear Physics, Saupfercheckweg 1, Heidelberg, Germany 69117 |
| 摘 要： | 利用适用于低能电子入射的反应显微成像谱仪，对电子入射He原子近阈值下的双电离过程进行了研究，实验测量了反应后3个粒子的全部动量，获得了出射电子间的关联信息.主要介绍近阈值下的双电离实验装置及实验技术，集中分析反应后出射电子的动量能量关系，对描述近阈值双电离的Wannier理论进行了检验，发现在入射电子能量为106eV时，实验结果具有Wannier理论预言的性质. |
| 关 键 词： | 近阈值He原子的双电离 反应显微成像谱仪 电子入射电离 |
| 文章编号： | 1000-3290/2007/56(11)/6386-07 |
| 收稿时间： | 2007-02-20 |
| 修稿时间： | 2007-02-20 |
Correlation of emitted electrons in near threshold double ionization of helium by electron impact |
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| Cao Shi-Ping,Ma Xin-Wen,A. Dorn,M. Dürr,J. Ullrich. Correlation of emitted electrons in near threshold double ionization of helium by electron impact[J]. Acta Physica Sinica, 2007, 56(11): 6386-6392 | |
| Authors: | Cao Shi-Ping Ma Xin-Wen A. Dorn M. Dürr J. Ullrich |
| Affiliation: | 1.Institute of Modern Physics,Chinese Academy of sciences,Lanzhou 730000,China;2.Graduate University of Chinese Academy of Sciences,Beijing 100049,China;3.Max-Planck-Institute for Nuclear Physics,Saupfercheckweg 1,Heidelberg 69117,Germany |
| Abstract: | |
| Keywords: | near threshold double ionization reaction microscope electron impact ionization |
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