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氧化铱膜修饰微电极的制备及痕量砷(Ⅲ)测定
引用本文:杜亚琳,李建平.氧化铱膜修饰微电极的制备及痕量砷(Ⅲ)测定[J].分析测试学报,2007,26(3):397-400.
作者姓名:杜亚琳  李建平
作者单位:桂林工学院,材料与化学工程系,广西,桂林,541004;桂林工学院,材料与化学工程系,广西,桂林,541004
基金项目:广西高校百名中青年骨干教师资助计划项目 , 桂林工学院校科研和教改项目
摘    要:通过在铱丝尖端电沉积氧化铱,制成氧化铱膜修饰微电极,研究了其电化学性质,测定了电极反应的动力学常数,电极反应的电子转移数为1,电子转移系数0.55,表观电子传递速率为0.1 s-1。在pH 4.5的磷酸缓冲溶液中,氧化铱膜修饰微电极对As(Ⅲ)的氧化有明显催化作用,可用于痕量As(Ⅲ)的测定,氧化峰电位为0.62 V。峰电流与As(Ⅲ)的浓度在5×10-8~8×10-5mol/L范围呈良好的线性关系,检出限5×10-9mol/L,响应时间小于1 s。该电极制作简单,稳定性和重复性好,已用于实际样品分析。

关 键 词:氧化铱  修饰微电极  砷(Ⅲ)
文章编号:1004-4957(2007)03-0397-04
收稿时间:2006-05-15
修稿时间:2006-08-25
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