首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

多孔硅膜微结构的透射电镜研究
引用本文:李刚,钟以诚,戴道宣. 多孔硅膜微结构的透射电镜研究[J]. 物理实验, 2000, 20(7): 10-12
作者姓名:李刚  钟以诚  戴道宣
作者单位:复旦大学物理系近代物理实验室,上海,200433
摘    要:用透射电镜观察到由Si(lll)衬底生长的多孔硅膜具有双层结构和明显的不均匀微结构,初步探讨了荧光机理与微结构的关系。

关 键 词:多孔硅 微结构 透射电镜
修稿时间:1999-09-21

The study of microstructure of porous silicon films with TEM
Li Gang. The study of microstructure of porous silicon films with TEM[J]. Physics Experimentation, 2000, 20(7): 10-12
Authors:Li Gang
Abstract:
Keywords:
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号