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两偏振态测量偏振相关损耗
引用本文:丁攀峰,王加贤,庄其仁,孙军强.两偏振态测量偏振相关损耗[J].光子学报,2007,36(12):2281-2283.
作者姓名:丁攀峰  王加贤  庄其仁  孙军强
作者单位:华侨大学,信息科学与工程学院,福建,泉州,362021;华中科技大学,光电学院,武汉,430074
摘    要:基于具有偏振相关损耗和双折射的密勒矩阵洛伦兹变化特性,提出了一种测量偏振相关损耗的新方法.证实了测量偏振相关损耗取决于密勒矩阵的第一列元素.提出了一种实用的测量方法.新方法对于偏振相关损耗的测量只需要两个输入偏振态,因此具有测量速度快和测量误差小的优点,实验的测量结果证实了该方法的可靠性.

关 键 词:偏振度  偏振态  偏振相关损耗
文章编号:1004-4213(2007)12-2281-3
收稿时间:2007-03-30
修稿时间:2007年3月30日

Measurement of Polarization Dependent Loss by Two SOPs
DING Pan-feng,WANG Jia-xian,ZHUANG Qi-ren,SUN Jun-qiang.Measurement of Polarization Dependent Loss by Two SOPs[J].Acta Photonica Sinica,2007,36(12):2281-2283.
Authors:DING Pan-feng  WANG Jia-xian  ZHUANG Qi-ren  SUN Jun-qiang
Abstract:Based on the Lorentz property of Mueller matrix of optical devices with both PDL and birefringence,a new PDL measurement method is proposed.It is proved that PDL depends on the first column of the Mueller matrix.A practical method is proposed for measurement of PDL.The new method employs only two input SOPs.So it has the advantage of higher measurement speed and lower measurement error.The experiment shows the reliability of the new method.
Keywords:Degree of Polarization(DOP)  State of Polarization(SOP)  Polarization Dependent Loss(PDL)
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