基于超深亚微米IC设计的信号完整性研究 |
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引用本文: | 王明虎,蔡金青,杨依忠,梁齐.基于超深亚微米IC设计的信号完整性研究[J].中国集成电路,2004(2):79-81. |
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作者姓名: | 王明虎 蔡金青 杨依忠 梁齐 |
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摘 要: | 随着工艺尺寸的缩小,IC设计的两大趋势是设计更复杂和对产品的设计周期要求更苛刻。在超深压微米IC设计中,设计的复杂性会导致信号完整性(SI)问题更加突出,从而会影响整个产品的设计周期。本文提出了SI概念以及影响它的因素,并针对其两个主要影响因素,串扰(crosstalk)和IR压降进行了分析讨论,并提出了解决的方案。
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关 键 词: | 超深亚微米IC 集成电路 设计 信号完整性 设计周期 信号完整性 |
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