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| X射线荧光分析中的基本参数法——基本参数对分析结果的影响 | |
| 作者姓名： | 吉昂 陶光仪 |
| 作者单位： | 中国科学院上海硅酸盐研究所(吉昂)，中国科学院上海硅酸盐研究所(陶光仪) |
| 摘 要： | Criss等提出的基本参数法已成为X射线荧光分析中用数学方法校正元素间吸收-增强效应的三个主要方法之一,且是其中另一方法即基本参数法和影响系数法相结合的方法的基础。因此,近年来对基本参数和基本参数法的研究受到广泛的重视。对于某些样品的测定,基本参数法的相对误差约为1—2%,这主要来源于基本参数测定的不准确性。我们曾讨论了质量吸收系数和钨靶的不同原级X射谱对一些试样分析结果的影响。为了进一步弄清基本参数法及由基本参数法计算的理论影响系数,本文对近年 |
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