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汽相再流焊立碑缺陷的产生原因
引用本文:王修利,丁颖,严贵生,杨淑娟.汽相再流焊立碑缺陷的产生原因[J].电子工艺技术,2013(3):158-160,177.
作者姓名:王修利  丁颖  严贵生  杨淑娟
作者单位:北京控制工程研究所
摘    要:汽相再流焊具有加热效率高,温度均匀性好,加热不受元器件物理结构和几何形状限制等优点,但是汽相再流焊更容易引发立碑缺陷是每个用户必须面对的问题。结合汽相再流焊的工艺特点,建立了片式元件焊接时的受力模型,分析了汽相再流焊导致立碑的自身原因。通过减小汽相升温速率和调高印制板在蒸气层中的位置,有效降低了立碑缺陷的发生概率。

关 键 词:汽相再流焊  温度曲线  立碑  升温速率
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