| BCCD沟道电势直流测试方法研究 |
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| 引用本文： | 汪凌,韩恒利,任利平,廖晓航,柳益,苏玉棉,岳志强.BCCD沟道电势直流测试方法研究[J].半导体光电,2011,32(4):489-491. |
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| 作者姓名： | 汪凌 韩恒利 任利平 廖晓航 柳益 苏玉棉 岳志强 |
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| 作者单位： | 重庆光电技术研究所,重庆,400060;重庆光电技术研究所,重庆,400060;重庆光电技术研究所,重庆,400060;重庆光电技术研究所,重庆,400060;重庆光电技术研究所,重庆,400060;重庆光电技术研究所,重庆,400060;重庆光电技术研究所,重庆,400060 |
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| 摘 要： | 提出了一种对BCCD（埋沟电荷耦合器件）沟道电势的直流测试方法,并对此进行了理论分析和实验研究,该方法能快速、准确地进行BCCD沟道电势测试,确定BCCD随栅压变化的沟道电势曲线。实验结果表明,选取宽长比为11/5的NMOS管、源电流为0.01μA的测试条件,能够很好地模拟BCCD的工作状态。通过对1 024×1 024可见光BCCD进行验证测试,证实该方法可靠。
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| 关 键 词： | BCCD 沟道电势 测试 |
Research on DC Testing Methods of BCCD Channel Potential |
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| WANG Ling,HAN Hengli,REN Liping,LIAO Xiaohang,LIU Yi,SU Yumian,YUE Zhiqiang.Research on DC Testing Methods of BCCD Channel Potential[J].Semiconductor Optoelectronics,2011,32(4):489-491. |
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| Authors: | WANG Ling HAN Hengli REN Liping LIAO Xiaohang LIU Yi SU Yumian YUE Zhiqiang |
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| Institution: | (Chongqing Optoelectronics Research Institute,Chongqing 400060,CHN) |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | BCCD channel potential testing |
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