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MOCVD生长中载气H2对N掺杂ZnO性质的影响
引用本文:刘雪冬,顾书林,李峰,朱顺明,刘伟,叶建东,单正平,刘少波,汤琨,朱光耀,张荣,郑有炓. MOCVD生长中载气H2对N掺杂ZnO性质的影响[J]. 发光学报, 2008, 29(3)
作者姓名:刘雪冬  顾书林  李峰  朱顺明  刘伟  叶建东  单正平  刘少波  汤琨  朱光耀  张荣  郑有炓
作者单位:南京大学物理系,江苏省光电功能材料重点实验室,江苏,南京,210093
基金项目:国家重点基础研究发展计划(973计划) , 国家自然科学基金 , 国家高技术研究发展计划(863计划)
摘    要:采用MOCVD方法在石英衬底上生长ZnO。实验使用二乙基锌(DEZn)为锌源,N2O作为氧和氮源,H2作为载气。采用PL和Raman光谱方法对ZnO样品进行表征,结果表明H2的加入大幅度减少薄膜中碳的掺入,明显改善了薄膜的光学质量。采用N2O离化技术,可以进一步提高其带边峰的强度,抑制带内发光。XRD测量表明,生长的ZnO薄膜具有c轴择优取向。目前生长高质量N掺杂的p型ZnO薄膜是很困难的,而H2作为载气的加入明显改善了ZnO薄膜的光学性质,在生长过程中加入H2将为获得高质量N掺杂的p型ZnO薄膜提供一种途径。

关 键 词:氧化锌  载气  金属有机源化学气相沉积  离化

The Effect of Carrier Gas H2 Used during MOCVD-growth on the Properties of N-doped ZnO
LIU Xue-dong,GU Shu-lin,LI Feng,ZHU Shun-ming,LIU Wei,YE Jian-dong,SHAN Zheng-ping,LIU Shao-bo,TANG Kun,ZHU Guang-yao,ZHANG Rong,ZHENG You-dou. The Effect of Carrier Gas H2 Used during MOCVD-growth on the Properties of N-doped ZnO[J]. Chinese Journal of Luminescence, 2008, 29(3)
Authors:LIU Xue-dong  GU Shu-lin  LI Feng  ZHU Shun-ming  LIU Wei  YE Jian-dong  SHAN Zheng-ping  LIU Shao-bo  TANG Kun  ZHU Guang-yao  ZHANG Rong  ZHENG You-dou
Abstract:
Keywords:ZnO  metal-organic chemical vapor deposition  ionization  carrier gas
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