| 基于LSTM-DHMM的MOSFET器件健康状态识别与故障时间预测 |
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| 引用本文： | 张明宇,王琦,于洋.基于LSTM-DHMM的MOSFET器件健康状态识别与故障时间预测[J].电子学报,2022,50(3):643-651. |
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| 作者姓名： | 张明宇 王琦 于洋 |
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| 作者单位： | 沈阳工业大学信息科学与工程学院,辽宁沈阳110870,沈阳工业大学信息科学与工程学院,辽宁沈阳110870;辽宁工业大学,辽宁锦州121001 |
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| 摘 要： | 针对MOSFET(Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor)器件故障预测与健康管理问题,提出了一种长短时记忆(Long Short-Term Memory,LSTM)算法与离散隐马尔可夫模型(Discrete Hidden Markov Model,DHMM)相...
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| 关 键 词： | 故障预测与健康管理 MOSFET(Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Tran 长短时序列 离散隐马尔可夫模型 自回归模型 故障时间 |
Health Status Identification and Fault Time Prediction of MOSFET Device Based on LSTM-DHMM |
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| ZHANG Ming-yu,WANG Qi,YU Yang.Health Status Identification and Fault Time Prediction of MOSFET Device Based on LSTM-DHMM[J].Acta Electronica Sinica,2022,50(3):643-651. |
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| Authors: | ZHANG Ming-yu WANG Qi YU Yang |
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