| 随机耦合模型中损耗因子的分析与获取 |
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| 引用本文： | 杨浩, 乐波, 闫二艳, 等. 随机耦合模型中损耗因子的分析与获取[J]. 强激光与粒子束, 2017, 29: 103202. doi: 10.11884/HPLPB201729.170152 |
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| 作者姓名： | 杨浩 乐波 闫二艳 林江川 |
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| 作者单位： | 1.中国工程物理研究院 复杂电磁环境科学与技术重点实验室, 四川 绵阳 621 900;;;2.中国工程物理研究院 应用电子学研究所, 高功率微波技术重点实验室, 四川 绵阳 621 900;;;3.盲信号处理重点实验室, 四川 成都 61 0041 |
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| 摘 要： | 随机耦合模型(RCM)是研究电磁脉冲干扰下波混沌系统中感应电压统计预测的新方法,其中波混沌腔体损耗因子的获取是这种方法使用的关键。从随机耦合模型理论出发,分析了损耗因子对腔体阻抗随频率变化特性的影响,探讨了不同损耗因子下归一化阻抗矩阵的统计特性,提出了使用腔体散射阻抗与辐射阻抗的比值作对照,以快速获取腔体损耗因子的新方法。
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| 关 键 词： | 随机耦合模型 损耗因子 高功率微波效应 电磁干扰 |
| 收稿时间： | 2017-05-05 |
| 修稿时间： | 2017-06-29 |
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