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| 基于边界扫描技术的VLSI芯片测试系统的设计与实现 | |
| 引用本文： | 孙东,缪栋.基于边界扫描技术的VLSI芯片测试系统的设计与实现[J].现代电子技术,1998(5):5-7. |
| 作者姓名： | 孙东 缪栋 |
| 摘 要： | ９０年代发展起来的边界扫描测试技术的推广应用引起测试设备和测试系统的重大变革，边界扫描测试技术正日益成为超大规模集成电路的主流测试技术，介绍一个基于边界扫描技术的ＶＬＳＩ芯片测试系统的设计思想、体系结构及硬件、软件的实现。 |
| 关 键 词： | 边界扫描 测试系统 VLSI芯片 |
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