X射线荧光光谱分析中理论α系数的快速计算 |
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作者姓名: | 许佩珍 华佑南 |
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作者单位: | 北京有色金属研究总院,南京地质矿产研究所 100088 北京 |
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摘 要: | 在X射线荧光光谱分析中,采用理论α系数对基体效应进行校正已被人们所重视,因其具有所需标样少、分析范围广、通用性强、手续简便等优点。笔者先假设若干组二元体系用NLRXRF程序计算理论相对强度,再由Lachance-Traill模式求得基本α系数,进而推算混合α系数和修正α系数。本文对地质岩石样品中硅酸盐系列的理论α系数作了计算,取得了满意的结果。一、理论α系数的计算
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