低电压对纯水/盐溶液过冷液滴冻结的影响 |
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作者姓名: | 宋振宇 周宇思 艾立强 李润道 陈民 |
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作者单位: | 1. 清华大学工程力学系;2. 中国运载火箭技术研究院研究发展部 |
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基金项目: | 国家自然科学基金资助项目(No.11972211); |
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摘 要: | 本文通过实验研究了低电压下纯水/盐溶液过冷液滴的冻结现象,测量了在1 V电压下液滴在金表面的冻结温度。实验结果表明外加低电压对纯水液滴冻结的影响较小,而对0.1 mol·L-1的KCl溶液液滴的冻结影响较明显。当金表面电势高时,盐溶液滴平均冻结温度上升,反之平均冻结温度下降。基于双电层假设,认为在低电压下纯水中双电层内电场强度低,对形核率的影响相对较小。盐溶液中的离子与电极表面形成的双电层内电场强度比纯水更高,对形核有更明显的影响;当外加电压削弱了双电层内的电场强度时,形核率下降,反之形核率上升。
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关 键 词: | 过冷液滴 盐溶液 双电层 冻结温度 形核率 |
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