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| 寿命正交试验 | |
| 作者姓名： | 简济斌 |
| 作者单位： | 中国科学院系统科学所 |
| 摘 要： | 1引言 80年5月初,日本电子学会可靠性委员会前委员长茅野健教授在北京介绍说(大意):“在日本的可靠性领域中,用正交表方法安排寿命试验,是取得真正明显实效的主要部分.”鉴于这种情况,我们把田口玄一《质量管理教材[线外QC]》(中部品质管理协会,1979年)第八章中一个例子,在处理方法上作了些改变,改写成如下的形式. 当零件与材料的磨损或劣化的情况很充分时,可以通过已知的情报来判定设计寿命期内将要达到的磨损或劣化水平.但当情报不够充分时,就必须进行寿命试验.对于最终设计的寿命试验,可以同生产及销售同时进行.但是要提高寿命,就必须在… |
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