首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     


Investigation of the (111) surface of P-doped Si by scanning tunneling microscopy
Authors:T. Trappmann  C. Sürgers  H. v. Löhneysen
Affiliation:Physikalisches Institut, Universit?t Karlsruhe, D-76128 Karlsruhe, Germany, DE
Abstract:Received: 27 March 1998
Keywords:PACS: 61.16Ch   68.35Dv   71.55Cn
本文献已被 SpringerLink 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号