| 综合微光测试系统的总体设计 |
| |
| 引用本文： | 刘宇. 综合微光测试系统的总体设计[J]. 应用光学, 1996, 0(5) |
| |
| 作者姓名： | 刘宇 |
| |
| 作者单位： | 西安应用光学研究所 |
| |
| 摘 要： | 描述一种微光像增强器综合测试系统的总体设计。设计采用了组合结构，使系统只用单一的光源就可以测试微光像增强器九项光量子类和几何类的参数，具有以往几台常规测试仪器功能的总和。系统对各参数测量的不确定度２～４％。
|
| 关 键 词： | 像增强器，综合测试，组合结构 |
THE OVERALL DESIGN OF A LOW-LIGHT-LEVEL COMPREHENSIVE TEST SYSTEM |
| |
| Liu Yu. THE OVERALL DESIGN OF A LOW-LIGHT-LEVEL COMPREHENSIVE TEST SYSTEM[J]. Journal of Applied Optics, 1996, 0(5) |
| |
| Authors: | Liu Yu |
| |
| Abstract: | |
| |
| Keywords: | lmage intensifier comprechensive test combination structure |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ |
|
