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杂志ISSN号
扫描探针显微镜在工业产品检测中的应用前景
作者姓名:
戴长春 张新文
作者单位:
中国科学院化学研究所,中国地质大学材料科学与工程学院
摘 要:
讨论了扫描探针显微镜(SPM)的应用领域和SPM的发展现状,重点探讨了国产SPM应用于信息产业、能源产业以及航空航天等工业领域中高新技术产品质量检测的存在、的问题、以及应用的前景。
关 键 词:
扫描探针显微镜 工业检测 SPM 显微镜
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