| 基于遗传算法的测试访问机制最优化 |
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| 引用本文： | 夏冰,冯建华.基于遗传算法的测试访问机制最优化[J].微电子学与计算机,2007,24(6):207-210. |
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| 作者姓名： | 夏冰 冯建华 |
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| 作者单位： | 1. 北京大学,深圳研究生院信息工程学院,广东,深圳,518055
2. 北京大学,微电子系,北京,100871 |
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| 摘 要： | 讨论了使测试访问机制最优化的几个问题,然后试着采用遗传算法来解决这些问题,在两个SoC上用遗传算法进行实验,把实验结果与采用整数线性规划方法(Integer Linear Programming,ILP)的结果进行比较可以发现效果改善的很明显。实验结果说明采用遗传算法对测试访问机制进行最优化处理的效果要好于ILP。
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| 关 键 词： | 测试访问 嵌入式核 系统芯片 测试访问机制 遗传算法 |
| 文章编号： | 1000-7180（2007）06-0207-04 |
| 修稿时间： | 2006-02-21 |
Optimization of Test Access Mechanism Based on the Genetic Algorithm |
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| XIA Bing,FENG Jian-hua.Optimization of Test Access Mechanism Based on the Genetic Algorithm[J].Microelectronics & Computer,2007,24(6):207-210. |
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| Authors: | XIA Bing FENG Jian-hua |
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| Institution: | 1 College of Information Engineering, Shenzhen Graduate School of Peking University, Shenzhen 518055, China; 2Dept. of Microelectronics, Peking University, Beijing 100871, China |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | test access embedded core system-on-chip (SoC) test access mechanism (TAM) genetic algorithm |
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