| 塑料闪烁光纤阵列成像探测器在高能X射线辐照下的串扰分析 |
| |
| 作者姓名： | 马庆力 唐世彪 许士敏 党双平 邹继伟 |
| |
| 作者单位： | 1. 电子工程学院 电子系, 合肥 230038;
2. 中国科技大学 近代物理系, 合肥 230026 |
| |
| 基金项目： | 国家自然科学基金(No.60602065)、安徽省自然科学基金(No.11040606M148)和中国博士后科学基金资助 |
| |
| 摘 要： | 采用蒙特卡罗方法对闪烁光纤阵列探测器在高能X射线入射下的串扰进行了模拟研究,并且分析比较了加铅层对串扰的影响.研究中采用对表征成像系统空间分辨率参量——调制传递函数进行模拟分析和比较,得到在光纤阵列之间加入不同铅层厚度后对系统调制传递函数参量曲线的影响.研究结果表明:在高能射线下,采用闪烁光纤阵列作为成像探测器存在严重的次级粒子相互串扰的现象,而在阵列之间加入铅介质能够减少这种效应;但另一方面,若所加铅层太厚又会导致成像探测器像素过大而使得空间分辨率下降.通过模拟计算得出:只要在阵列之间加入适当厚度的铅介质,既可以有效抑止阵列之间次级粒子的串扰,同时又能提高闪烁光纤阵列探测器系统的空间分辨率.
|
| 关 键 词： | 闪烁光纤阵列 成像探测器 铅层 串扰 |
| 收稿时间： | 2011-06-03 |
|
| 点击此处可从《光子学报》浏览原始摘要信息 |
|
点击此处可从《光子学报》下载全文 |
|
