首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     检索      

氧分压对磁控溅射β-Ga2O3薄膜结构及光学特性的影响
引用本文:董斌,何晨光,王长安,李祈昕,李叶林,刘宁炀,赵维,陈志涛.氧分压对磁控溅射β-Ga2O3薄膜结构及光学特性的影响[J].半导体光电,2021,42(6):849-853.
作者姓名:董斌  何晨光  王长安  李祈昕  李叶林  刘宁炀  赵维  陈志涛
作者单位:广东省科学院半导体研究所,广州510650
基金项目:广东省科学院“千名博士(后)计划”引进专项项目(2020GDASYL-03117);中国博士后科学基金项目(2021M690748).通信作者:刘宁炀
摘    要:通过磁控溅射沉积以及高温热退火处理,在5.08 cm(2 inch)c-plane蓝宝石异质衬底上制备出单晶β-Ga2O3薄膜,研究了溅射气氛中氧分压对β-Ga2O3薄膜的晶体结构以及光学特性的影响.通过调控氧分压,获得了具有{-2 01}晶面族X射线衍射峰的β-Ga2O3薄膜,其最大晶粒尺寸达到138 nm,在300~800 nm波段透射率大于80%,最大光学带隙达5.12 eV.最优的薄膜表面粗糙度达0.401 nm,800 nm波长处折射率为1.94.实验结果表明,降低氧分压有利于溅射粒子动能增大、数量增多,从而提升β-Ga2O3薄膜结晶质量、增加薄膜透射率和光学带隙;适当提高氧分压则有利于改善薄膜表面平整度,并提高致密度.

关 键 词:β-Ga2O3  磁控溅射  晶体结构  光学特性
收稿时间:2021/10/22 0:00:00
本文献已被 万方数据 等数据库收录!
点击此处可从《半导体光电》浏览原始摘要信息
点击此处可从《半导体光电》下载免费的PDF全文
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号