首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     


Study on the intrinsic thermal stability of thin-film superconductors due to a point heat source
Authors:Hsin-Sen Chu  Rong-Chang Chen
Affiliation:(1) Department of Mechanical Engineering, National Chiao Tung University, Hsinchu, Taiwan 30049, R.O.C.
Abstract:Intrinsic thermal stability denotes a situation where a superconductor can carry the operating current without Joule heating at all times after the occurrence of a localized release of thermal disturbance. The present work deals with the intrinsic thermal stability of an anisotropic thin-film superconductor under a localized release of thermal energy. A three-dimensional analysis is introduced to consider an instantaneous release of energy in the form of a point source at different locations. Through the transformation of coordinate, an exact solution is obtained by the method of separation of variables. Results from this study indicate that the thermal stability parameter of highly oriented films of superconductors is strongly under the influence of anisotropy. The stability parameter also depends on the location of point source, the amount of disturbance energy, the Biot number, and the aspect ratio in the plane of thin film and normal to it.Inhärente thermische Stabilität bezeichnet einen Zustand, in dem ein Supraleiter den Betriebsstrom zu allen, einer örtlich begrenzten thermischen Störung folgenden Zeiten ohne Joulesche Erwärmung transportieren kann. Die vorliegende Arbeit befaßt sich mit der inhärenten Stabilität eines anisotropen Dünnfilm-Supraleiters bei örtlich begrenzter Freisetzung thermischer Energie. Um die plötzliche Energiefreisetzung in Form einer Punktquelle an verschiedenen Stellen aufprägen zu können, wird die Untersuchung dreidimensional durchgeführt. Nach einer Koordinaten-transformation erhält man die exakte Lösung mittels der Methode der Variablentrennung. Die Ergebnisse dieser Studie zeigen, daß der thermische Stabilitätsparameter hochorientierter Supraleitfilme stark von Anisotropieeinflüssen abhängt, ferner von der Lokalisation der Punktquelle, dem Betrag der Störenergie, der Biot-Zahl sowie dem Seitenverhältnis in der Dünnfilm-Ebene und normal dazu.
Keywords:
本文献已被 SpringerLink 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号