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单颗粒-电感耦合等离子体质谱测定金纳米颗粒
引用本文:罗瑞平,郑令娜,李亮,王娟,丰伟悦,喻湘华,王萌.单颗粒-电感耦合等离子体质谱测定金纳米颗粒[J].分析化学,2018(6).
作者姓名:罗瑞平  郑令娜  李亮  王娟  丰伟悦  喻湘华  王萌
作者单位:武汉工程大学材料科学与工程学院;中国科学院高能物理研究所;中科院纳米生物效应与安全性重点实验室;中国科学院大学;珀金埃尔默企业管理上海有限公司
摘    要:单颗粒-电感耦合等离子体质谱法(Single particle-inductively coupled plasma-mass spectrometry,SPICP-MS)是近年出现的一种纳米材料分析方法,可用于表征纳米材料的元素组成、粒径分布以及颗粒物浓度。本研究对比了驻留时间(Dwell time,t_d)和稳定时间(Settling time,t_s)等质谱参数对单颗粒分析结果的影响,分析了金纳米颗粒标准物质(NIST 8012,NIST 8013,GBWE 120127)。结果表明,使用短的驻留时间(0.05 ms)和稳定时间(0 ms),可以获得更高的信噪比,检测到更多的纳米颗粒。利用本方法分析了AuNP标准物质,得到的粒径结果与标准值相符。本方法对金纳米颗粒的数量检出限为1.1×10~5L~(-1),粒径检出限为8 nm。

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