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AlN阻挡层对AlGaN/GaNHEMT器件的影响
引用本文:张进城,王冲,杨燕,张金凤,冯倩,李培咸,郝跃.AlN阻挡层对AlGaN/GaNHEMT器件的影响[J].半导体学报,2005,26(12):2396-2400.
作者姓名:张进城  王冲  杨燕  张金凤  冯倩  李培咸  郝跃
作者单位:西安电子科技大学微电子研究所,宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室,西安710071
基金项目:国家重点基础研究发展计划(973计划) , 国防科技预研基金 , 国防重点实验室基金
摘    要:利用低压MOCVD技术在蓝宝石衬底上生长了AlGaN/GaN异质结和AlGaN/AlN/GaN异质结二维电子气材料,采用相同器件工艺制造出了AlGaN/GaN HEMT器件和AlGaN/AlN/GaN HEMT器件.通过对两种不同器件的比较和讨论,研究了AlN阻挡层的增加对AlGaN/GaN HEMT器件性能的影响.

关 键 词:AlGaN/GaN  AlN阻挡层  二维电子气  HEMT  阻挡层  AlGaN  HEMT  器件性能  影响  Layer  Spacer  Effect  研究  比较  工艺制造  材料  二维电子气  异质结  生长  蓝宝石衬底  MOCVD  低压  利用
文章编号:0253-4177(2005)12-2396-05
修稿时间:2005年4月26日

Effect of an AlN Spacer Layer on AlGaN/GaN HEMTs
Zhang Jincheng,Wang Chong,Yang Yan,Zhang,Zhang Jinfeng,Feng Qian,Li Peixian and Hao Yue.Effect of an AlN Spacer Layer on AlGaN/GaN HEMTs[J].Chinese Journal of Semiconductors,2005,26(12):2396-2400.
Authors:Zhang Jincheng  Wang Chong  Yang Yan  Zhang  Zhang Jinfeng  Feng Qian  Li Peixian and Hao Yue
Abstract:AlGaN/GaN and AlGaN/AlN/GaN heterostructure two-dimensional electron gas materials are grown on sapphire substrates by low-pressure MOCVD technique.AlGaN/GaN HEMTs and AlGaN/AlN/GaN HEMTs are fabricated by the same device processes.The effects of an AlN spacer layer on the device performance of AlGaN/GaN HEMTs are studied by comparing the DC characteristics of these two different devices.
Keywords:AlGaN/GaN  AlN spacer layer  two-dimensional electron gas  HEMT
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