| 光激电流谱的测试 |
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| 引用本文： | 邵丽梅,杨威.光激电流谱的测试[J].光学技术,1999(2). |
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| 作者姓名： | 邵丽梅 杨威 |
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| 作者单位： | 吉林工业大学物理系(邵丽梅)，装甲兵技术学校(杨威) |
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| 摘 要： | 用光激瞬态电流谱ＯＴＣＳ（ｏｐｉｔａｌｔｒａｎｓｉｔｉｏｎｃｕｎｅｎｔｓｐｅｃｔｒｏｓｃｏｐｙ）方法对ＩｎＰ∶Ｆｅ进行了初步测试。目的是研究半绝缘ＩｎＰ∶Ｆｅ中的深能级，了解其作为光电器件、高速器件衬底的稳定性。在低温下，用强光发现半绝缘ＩｎＰ∶Ｆｅ中存在两深能级，分别是ＥＴ＝０．３４ｅＶ的电子陷阱和ＥＴ＝１．１３ｅＶ的空穴陷阱。
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| 关 键 词： | 半导体材料 光激瞬态电流谱 特性测量 |
Measuring of optical transition current spectroscopy |
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| SHAO Li-mei,YANG Wei.Measuring of optical transition current spectroscopy[J].Optical Technique,1999(2). |
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| Authors: | SHAO Li-mei YANG Wei |
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