| 钴酞菁分子结中电子输运性质的理论研究 |
| |
| 引用本文： | 李群祥,武晓君,李斌,杨金龙,侯建国,朱清时.钴酞菁分子结中电子输运性质的理论研究[J].电子显微学报,2003,22(3):194-198. |
| |
| 作者姓名： | 李群祥 武晓君 李斌 杨金龙 侯建国 朱清时 |
| |
| 作者单位： | 中国科学技术大学选键化学重点实验室和结构分析重点实验室,安徽,合肥,230036 |
| |
| 基金项目： | 国家自然科学基金资助项目 (No .10 0 740 5 8，2 0 0 2 5 3 0 9)，国家重点基础研究发展规划项目基金 (No .G19990 75 3 0 5 ) |
| |
| 摘 要： | 利用半经验Extended Hueckel分子轨道方法和格林函数方法来研究钴酞菁(CoPc)分子结的电子输运性质。计算结果表明分子结(器件)电子输运性质对分子本身的电子结构、电极不同晶向表面、分子与电极间耦合强度、其界面的几何构型，对电极表面接触分子的末端原子的种类等诸多方面都有不同程度的依赖关系。对于CoPc这类弱耦合分子结而言，可以通过测量其I-V曲线来研究分子本身的电子结构。本文的理论方法不仅可以用来描述分子器件的电子输运行为，还能用来研究扫描探针显微镜体系的伏安特性和扫描隧道谱。
|
| 关 键 词： | 钴酞菁 分子结 分子器件 电子输运 扫描探针显微镜 扫描隧道谱 伏安特性 |
| 文章编号： | 1000-6281(2003)03-0194-05 |
Electron transmission of cobalt phthalocyanine(CoPc) junction |
| |
| LI Qun xiang,WU Xiao jun,LI Bin,YANG Jin long,HOU Jian guo,ZHU Qing shi.Electron transmission of cobalt phthalocyanine(CoPc) junction[J].Journal of Chinese Electron Microscopy Society,2003,22(3):194-198. |
| |
| Authors: | LI Qun xiang WU Xiao jun LI Bin YANG Jin long HOU Jian guo ZHU Qing shi |
| |
| Abstract: | |
| |
| Keywords: | electron transmission molecular device metal phthalocyanine scanning tunneling microscope |
| 本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录！ |
