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根据环境温度进行红外成像系统漂移补偿
作者姓名:余毅  王旻  常松涛  姜会林
作者单位:长春理工大学光电工程学院;中国科学院长春光学精密机械与物理研究所;中国科学院大学;
基金项目:吉林省自然科学基金(201115124)
摘    要:采用红外成像系统进行目标辐射特性测量时,环境温度变化引起的输出灰度漂移是一项重要的误差来源。通过研究环境温度对制冷型红外成像系统输出灰度的影响机理,提出了一种直接根据环境温度对输出灰度漂移进行补偿的方法。分析了红外成像系统灰度漂移来源,推导了漂移量与环境温度的函数关系,建立了理论模型,并在此基础上提出一种简便的漂移修正方法。通过辐射定标实验对该方法的有效性进行验证,结果表明,提出的方法不仅保证了红外系统测量精度,而且在系统线性响应范围内可以直接通过计算实现任意积分时间下的漂移补偿,提高了辐射定标和测量效率。

关 键 词:成像系统  辐射测量  漂移  环境温度  杂散辐射  积分时间
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