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基于半参数回归模型的残差控制图
引用本文:李艳,卢游,范翔,苗庆娅.基于半参数回归模型的残差控制图[J].数理统计与管理,2016(4):700-706.
作者姓名:李艳  卢游  范翔  苗庆娅
作者单位:1. 华东师范大学统计学院,上海,200241;2. 上海烟草集团有限责任公司,上海,200082
基金项目:国家自然科学基金(11101156,11271135,11471119);高等学校学科创新引智计划(B14019);上海市优秀学术带头人计划(14XD1401600)资助
摘    要:本文探讨产品工作状态(而非工作结果)的监控,即产品质量特性值随时间和其他影响因素变化的工作过程的监控。受到卷烟生产中叶丝干燥出口物料含水率的监控问题的启发,本文提出了基于半参数回归模型的残差控制图,即通过拟合半参数回归模型获得残差,将经过标准化变换、去自相关性处理和正态变换后的残差作为描点统计量作于Shewhart控制图中,从而进行产品过程工作状态的质量监控。实例分析显示,本文方法对过程均值的异常反应灵敏,能有效地应用于实际生产中。

关 键 词:纵向数据  半参数回归模型  残差监控  过程监控  Shewhart控制图

Residual Control Chart Based on Semiparametric Regression Model
LI Yan;LU You;FAN Xiang;MIAO Qing-ya.Residual Control Chart Based on Semiparametric Regression Model[J].Application of Statistics and Management,2016(4):700-706.
Authors:LI Yan;LU You;FAN Xiang;MIAO Qing-ya
Institution:LI Yan;LU You;FAN Xiang;MIAO Qing-ya;School of Statistic,East China Normal University;Shanghai Tobacco Group Co.,LTD;
Abstract:
Keywords:longitudinal data  semiparametric model  residuals control  process control  Shewhart control chart
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录!
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